lC芯片冷熱循環(huán)試驗箱

簡要描述：lC芯片冷熱循環(huán)試驗箱：
本產(chǎn)品廣泛應用于電子、汽車配件、塑膠等行業(yè)，測試各種材料對高、低溫的反復抵拉力，試驗出產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的認同。

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所屬分類：兩槽式冷熱沖擊試驗箱

產(chǎn)品時間：2026-01-17

詳情介紹

lC芯片冷熱循環(huán)試驗箱 冷熱沖擊試驗箱：熱沖擊試驗箱是用以電子電氣零組件、自動化技術零部件、通信部件、汽車零配件、金屬材料、化工材料、塑膠等制造行業(yè)，國防科技、航空航天、兵工業(yè)生產(chǎn)、BGA、pcb線路板基鋼板、電子芯片lC、半導體材料陶磁及纖維材料之物理學性轉變，檢測其原材料對高低溫試驗的不斷低抗拉力及商品于熱漲冷縮商品的化學反應或物理傷害，可確定商品的質(zhì)量，從高精密lC到重機械的部件。

lC芯片冷熱循環(huán)試驗箱

★箱體采用數(shù)控機床加工成型，造型美觀大方、新穎并采用無反作用把手，操作簡便。

★箱體內(nèi)膽采用進口高級不銹鋼（SUS304）鏡面板或304B氬弧焊制作而成，箱體外膽采用A3鋼板噴
★采用微電腦溫度濕度控制器，控溫控濕可靠。
★大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且采用多層玻璃，隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。
★設有獨立限溫報警系統(tǒng)，超過限制溫度即自動中斷，保證實驗安全運行不發(fā)生意外。
★可選配記錄儀，打印機能打印記錄設定參數(shù)和掃描出溫濕度變化曲線，4～20mA標準信號。
★箱體左側配一直徑50mm的測試孔。

設備型號		TSD-50F-2P	TSD-80F-2P	TSD-100F-2P	TSD-150F-2P	TSD-252F-2P	TSD-480F-2P
測試區(qū)尺寸（W×H×D cm）		35×35×40	50×40×40	60×45×40	60×60×60	80×80×80	100×100×100
外型尺寸（W×H×D cm）		125145132	180×200×140	190×210×140	190×230×155	260×200×180	280×220×200
性能	高溫貯熱范圍	+60℃~+200℃
	低溫貯冷范圍	-10℃~-50℃（A型）；-10℃~-65℃（B型）；-10℃~-75℃（C型）
	試驗范圍	高溫：60℃~150℃ 低溫：-10℃~-40℃（A型）；-10℃~-55℃（B型）；-10℃~-65℃（C型）
	升溫速率	+60℃~+200℃≤30min
	降溫速率	+25℃~-55℃≤60min，+25℃~-65℃≤70min，+25℃~-75℃≤80min
	風門切換時間	≤10S
	溫度恢復時間	≤5min
	溫度波動度	≤±0.5℃
	溫度偏差	≤±2.0℃
材質(zhì)	外部材質(zhì)	SECC鋼板+粉底烤漆
	內(nèi)部材質(zhì)	SUS#304不銹鋼板
	隔熱材質(zhì)	PU及隔熱棉
溫度控制系統(tǒng)	制冷機	歐美*壓縮機
	制冷劑	R404a/R23
	風機	軸流風機
	加熱器	不銹鋼電加熱器
	蒸發(fā)器	鰭片式
	冷凝器	風冷或水冷式
	制冷方式	二元復疊制冷
控制器	顯示器	日本UNIQUE、OYO等
	解析精度	0.1℃/0.01℃
	設定方式	中英文菜單，觸摸屏方式輸入
	控制方式	微積分運算PID
	傳感器	T Type
觀察窗		多層中空電鍍膜加熱玻璃
其它配件		測試孔（∮50mm一個或依客戶），隔層架（兩個或依客戶），腳輪四個
安全裝置		超溫保護；漏電保護；缺水保護（水冷式）；壓縮機超壓、過載、過電流保護；風機過載保護；相序保護
電源		AC 380V（1±10%）V，50±0.5HZ，三相四線+保護地線
選配件		溫度記錄儀，可記錄溫度訊號

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